該設備主要是針對(duì)於電工、電子(zǐ)產品,以及其原器件,及其它材料在高溫、低溫、溫濕度及其循環(huán)變化的環境下貯存、運輸、使用時的(de)適應性試驗。
滿足試驗標準:
GB 10589-2008 《低溫(wēn)試驗箱技術條件》
GB 11158-2008 《高溫試驗(yàn)箱技術條件》
GB 10592-2008 《高低溫(wēn)試驗箱技術(shù)條件》
GB2423.1-2008 《電工電子產品基(jī)本試驗規程 試驗A:低溫試驗方(fāng)法》
GB2423.2-2008 《電工電子產品基本試驗規程 試驗B:高溫試驗方法》
GB2423.4-2008 《電工電子產品(pǐn)基本試驗規程 試驗Db:交變試驗方法》
GB2424.1-2005 《電工電子產(chǎn)品基本(běn)環境試驗規程 高溫低(dī)溫試驗導則》
GB2423.22-2008 《電工電子產品基本試驗規程(chéng) 試驗N:溫度變化試驗方(fāng)法》
GB/T5170.2-2008 《電工電子(zǐ)產品環境試驗設備基本參數檢定方法 溫度試驗設(shè)備》
GB2423.3-2008試驗C《恒定(dìng)濕熱試(shì)驗方法(fǎ)》;
GB2423.4-93試(shì)驗D《交變濕(shī)熱試驗方法(fǎ)》