八十年（nián）代初我國發布實（shí）施的環境試驗方法標準一覽表
（合計22項標準，包括總則和名詞術（shù）語）
GB2421—81 電工電子產品基本環境試驗（yàn）規程 總則
GB2422—81 電工電子產品基本環境（jìng）試驗規程 名詞術語
GB2423.1—81 電工電子產品基本環境（jìng）試驗規（guī）程 試驗A：低（dī）溫（wēn）試驗方法
GB2423.2—81 電工電子（zǐ）產品基本環境試驗規程 試驗B：高溫試驗方法
GB2423.3—81 電工電（diàn）子產品基本環境試（shì）驗規程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
GB2423.4—81 電工電子（zǐ）產品基本環境試驗規程 試驗Db：交變濕熱試驗方法
GB2423.5—81 電工電子產品基本環（huán）境試（shì）驗（yàn）規程 試驗Ea：衝擊試驗方法
GB2423.6—81 電工電子產品基本環（huán）境試（shì）驗規程 試驗Eb：碰撞試驗方法
GB2423.7—81 電工電子產品基（jī）本環境試驗規程 試驗Ec：傾跌與翻倒試驗方法
GB2423.8—81 電（diàn）工電子產品基（jī）本（běn）環境試驗規程（chéng） 試驗Ed：自由（yóu）跌落試驗方（fāng）法
GB2423.10—81 電工電子產（chǎn）品基本環境試驗規程 試驗Fc：振動（正（zhèng）弦）試驗方法
GB2423.15—81 電工電子產品基本環（huán）境試驗規程 試驗Ga：恒加速度試驗方法（fǎ）
GB2423.16—81 電（diàn）工電子產品基本環境試驗規程 試驗J：長（zhǎng）黴試驗方法
GB2423.17—81 電工電子產品基本環境試驗規（guī）程 試驗Ka：鹽霧（wù）試驗方法
GB2423.19—81 電工電子產品基本環境試驗規程 試驗Kc：接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法
GB2423.20—81 電工電子產（chǎn）品基本環境試驗規程 試驗Kd：接觸點和連接件的（de）硫化氫試驗方法
GB2423.21—81 電工電子產品（pǐn）基本環境試驗規程（chéng） 試驗M：低氣壓（yā）試驗方（fāng）法
GB2423.22—81 電工電（diàn）子產品（pǐn）基本環境試驗規（guī）程 試驗N：溫度變化（huà）試驗方法
GB2423.24—81 電工電子（zǐ）產品基（jī）本環境試驗規程（chéng） 試驗Sa：模擬（nǐ）地麵上的（de）太陽輻射試驗方法
GB2423.25—81 電工電子產品（pǐn）基本環境試（shì）驗規程 試驗Z/AM：低溫/低氣壓綜合（hé）試驗（yàn）方法
GB2423.26—81 電工電子產品基本環境（jìng）試驗（yàn）規程 試驗Z/BM：高（gāo）溫/低氣（qì）壓綜合試驗方法
GB2423.27—81 電工電子產品基本（běn）環（huán）境試（shì）驗規程 試驗Z/AMD：低溫/低氣壓/濕熱連續綜合試驗方法
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